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資料下載 > GB 15208.2-2018微劑量X射線安全檢測(cè)模體——技術(shù)規(guī)格書(shū)
GB 15208.2-2018微劑量X射線安全檢測(cè)模體——技術(shù)規(guī)格書(shū) |
| 點(diǎn)擊次數(shù)：2596 發(fā)布時(shí)間：2024/8/6 |
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東莞市高升電子精密科技有限公司 |
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測(cè)試體包括測(cè)試體A 和測(cè)試體B。測(cè)試體A為圖像解析度測(cè)試體，用于測(cè)試設(shè)備的線分辨力、穿透分辨力、空間分辨力和穿透力；測(cè)試體 B 為材料分辨測(cè)試體，用于測(cè)試設(shè)備的有機(jī)物分辨、灰度分辨、混合物分辨、無(wú)機(jī)物分辨、材料分辨和有效材料分辨。測(cè)試體內(nèi)包含測(cè)試卡。測(cè)試卡安裝在測(cè)試體內(nèi)的固定板上，并用上，下防護(hù)襯板封裝成一長(zhǎng)方形的測(cè)試體。測(cè)試體的防護(hù)襯板采用原色發(fā)泡聚乙烯板，密度為0.015g/cm3~0.025g/cm3。
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